회사소개
OCS(Optical Control Systems)
Metrohm NIRSystems
X-RAY PELLET SCANNER(XP7)
새로운 OCS XP7 X-Ray 펠렛 스캐너는 매우 투명 또는 불투명한 펠렛에서 금속 이물을 감지하여 폴리머와 제품 품질을 개선합니다. XP7 측정 시스템의 혁신적인 X-ray 기술은 펠렛 스트림의 이미지를 실시간으로 분석합니다. 금속과 폴리머에서 X-ray의 흡수가 다른 성질을 이용하여 50µm 이상의 금속 이물을 검출할 수 있습니다. 이물이 확인된 펠렛은 멀티트랙 에어 노즐 시스템에 의해 분류됩니다.
Resolution
50 μm
High-voltage generator
Specification max : 30kv, 300w
Communication protocol
MODBUS (RTU, TCP/IP), PROFIBUS, PROFINET, OPC (Server/Client), CSV file, customer-specific
큐씨에이(Quality Control Assistance)
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